按键寿命测试设备
授权
摘要
本实用新型涉及电子产品按键寿命测试领域，具体公开了按键寿命测试设备，该按键寿命测试设备通过在测试台上设有上连接板与下连接板，并且在上连接板与下连接板上分别设有用于安装测试杆的连接块，通过使测试杆上下设置成双工位，提高测试效率，且连接块上设有第一U形孔，可使测试杆在第一U形孔的长度范围内根据产品规格进行上下调节，增加设备的通用性，并且上料板上设有呈方形的上料位，每个上料位内设有若干上料孔，可同时对多个产品进行上料测试，进一步提高测试效率。
基本信息
专利标题 ：
按键寿命测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123418189.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
CN216524767U
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
李术林
申请人 ：
佛山市顺德区艾测仪器设备有限公司
申请人地址 ：
广东省佛山市顺德区容桂振华居委会顺德大道容桂路段26座二楼门市之三
代理机构 ：
佛山市智汇聚晨专利代理有限公司
代理人 ：
施冬兰
优先权 ：
CN202123418189.0
主分类号 ：
G01M13/00
IPC分类号 ：
G01M13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M13/00
机械部件的测试
法律状态
2022-05-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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