MCU参数测试系统

专利申请权、专利权的转移

摘要

本公开提供一种MCU参数测试系统，包括计算单元、控制单元和测试单元，所述计算单元与所述控制单元和所述测试单元均双向通信连接，所述控制单元与目标MCU双向通信连接，所述测试单元与所述目标MCU单向通信连接，其中：计算单元，用于向所述控制单元发出状态配置指令，并响应状态反馈信息向所述测试单元发出测试指令；所述控制单元，用于响应所述状态配置指令对所述目标MCU进行配置，并向所述计算单元发送状态反馈信息；所述测试单元，用于响应所述测试指令对所述目标MCU进行测量，获取参数数据，并将所述参数数据发送给所述计算单元。本公开可以实现对单片机参数的自动测试，提高对单片机参数测量的准确性。

基本信息

专利标题：

MCU参数测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921381266.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-23

授权号：

CN210181590U

授权日：

2020-03-24

发明人：

楼鹏孙万里罗琼付艳

申请人：

珠海艾派克微电子有限公司

申请人地址：

广东省珠海市香洲区广湾街83号01栋1楼、3楼、4楼、5楼、6楼、7楼、8楼

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司

代理人：

胡艾青

优先权：

CN201921381266.X

主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/22