温度试验箱的参数测试方法及其系统

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摘要

本发明提供一种温度试验箱的参数测试方法及系统，所述温度试验箱的参数测试方法包括根据所述温度试验箱的温度范围设定上限温度Tmax和下限温度Tmin；根据所述温度试验箱的温变率区间，设定对应所述温变率区间的时间段数量n；根据计算所述温度试验箱在上限温度Tmax和下限温度Tmin之间有效范围内的线性温变率。本发明对温度试验箱参数测试中的风速和温变率做出了明确具体的测量计算公式定义，更符合高质量、高可靠性温度试验箱的实际验收需要。

基本信息

专利标题：

温度试验箱的参数测试方法及其系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN108572087A

申请号：

CN201710134510.1

公开（公告）日：

2018-09-25

申请日：

2017-03-08

授权号：

CN108572087B

授权日：

2022-05-20

发明人：

王雷陈志列

申请人：

研祥智能科技股份有限公司

申请人地址：

广东省深圳市光明新区高新路11号研祥智谷创祥地1号5楼

代理机构：

北京汇泽知识产权代理有限公司

代理人：

张瑾

优先权：

CN201710134510.1

主分类号：

G01M99/00

IPC分类号：

G01M99/00