时间参数校准系统
授权
摘要
本申请涉及一种时间参数校准系统，用于校准数字测试系统的多个数字测试通道。其中，时间参数校准系统包括：示波器和时间参数校准模块；时间参数校准模块包括多个校准通道，用于通过多个校准通道输出相同波形；多个校准通道经由多条走线与多个数字测试通道一一对应地连接，多条走线中每条走线上设置有测试点；示波器包括第一测试探头和第二测试探头，第一测试探头与多条走线中一条走线上的测试点连接，第二测试探头用于分别与多条走线中每条走线上的测试点连接，以测量校准通道的路径延时信息。通过本申请，解决了由时间参数校准系统校准的数字测试系统的时间参数测试精度低的问题，能够提高数字测试系统的时间参数测试精度。
基本信息
专利标题 ：
时间参数校准系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021934321.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-07
授权号 ：
CN214201669U
授权日 ：
2021-09-14
发明人 ：
王桥元赵阳钟锋浩
申请人 ：
杭州长川科技股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区聚才路410号
代理机构 ：
杭州华进联浙知识产权代理有限公司
代理人 ：
龙伟
优先权 ：
CN202021934321.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R13/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-09-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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