同步通讯芯片并行测试方法
专利申请权、专利权的转移
摘要
本发明公开了一种同步通讯芯片并行测试方法，首先，在硅片上使用移位寄存器将多个芯片连接起来，通过串转并的方法将测试信号输入到所有被测芯片上；然后，通过移位寄存器将多个芯片的输出数据通过并转串的方法输入到测试仪的I/O口上；最后测试仪通过对读入的数据进行数据处理得到各个被测芯片的PASS/FAIL结果。本发明可以提高测试效率，降低测试时间与成本。
基本信息
专利标题 ：
同步通讯芯片并行测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1979202A
申请号 ：
CN200510111292.7
公开（公告）日 ：
2007-06-13
申请日 ：
2005-12-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
武建宏
申请人 ：
上海华虹NEC电子有限公司
申请人地址 ：
201206上海市浦东新区川桥路1188号
代理机构 ：
上海浦一知识产权代理有限公司
代理人 ：
丁纪铁
优先权 ：
CN200510111292.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2014-02-05 ：
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101689309964
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2005101112927
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 上海华虹NEC电子有限公司
变更后权利人 : 上海华虹宏力半导体制造有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 201206 上海市浦东新区川桥路1188号
变更后权利人 : 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
登记生效日 : 20140108
号牌文件序号 : 101689309964
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL2005101112927
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 上海华虹NEC电子有限公司
变更后权利人 : 上海华虹宏力半导体制造有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 201206 上海市浦东新区川桥路1188号
变更后权利人 : 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
登记生效日 : 20140108
2009-06-17 ：
授权
2007-08-08 ：
实质审查的生效
2007-06-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
