射频芯片的测试系统及测试方法
实质审查的生效
摘要
本申请涉及芯片测试技术领域，公开了一种射频芯片的测试系统及测试方法，该射频芯片的测试系统，通过设置射频接口模块，由射频接口模块的至少两个第一功分器连接至少两颗射频芯片的射频输入端口，由射频接口模块的第二功分器和第三功分器将至少两颗射频芯片的射频输出端口连接至信号测量装置，以实现至少两颗射频芯片的测试，本申请实施例能够提高射频芯片的测试效率。
基本信息
专利标题 ：
射频芯片的测试系统及测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325340A
申请号 ：
CN202111672376.3
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
江明孙梅芳
申请人 ：
南京矽典微系统有限公司
申请人地址 ：
江苏省南京市中国（江苏）自由贸易试验区南京片区江淼路88号腾飞大厦B座12楼1203-1204室
代理机构 ：
深圳市六加知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈金赏
优先权 ：
CN202111672376.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R21/00 G01R23/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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