射频测试系统及其射频测试电路

专利权的终止

摘要

一种射频测试系统，包括射频信号源、天线、射频测试电路、测试探针及测试仪器，射频信号源用于产生射频信号。测试探针用于从射频测试电路撷取射频信号。测试仪器用于检测所述测试探针所撷取的射频信号。射频测试电路设置于电路板上，并包括第一接垫、第二接垫、传输线及一对接地，传输线位于所述接地之间。第二接垫位于第一接垫和天线之间且与第一接垫之间的距离为射频信号的四分之一波长。其中，测试时，测试探针与第一接垫电性接触，第二接垫接地。

基本信息

专利标题：

射频测试系统及其射频测试电路

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820300315.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-03-07

授权号：

CN201207715Y

授权日：

2009-03-11

发明人：

吴正宇颜涛

申请人：

鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

申请人地址：

518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200820300315.8

主分类号：

H04Q7/34

IPC分类号：

H04Q7/34 H04B17/00