射频集成电路测试系统

授权

摘要

本实用新型涉及电路测试技术领域，且公开了射频集成电路测试系统，包括底座、测试仪、测试探针和显示器，所述底座的上表面固定设有L型支撑板，所述L型支撑板的顶部固定设有气缸，所述气缸的活塞杆末端固定设有固定板，所述固定板的上表面左右两侧均开设有插孔，所述测试探针通过插孔插入在固定板上，所述测试仪固定设置于所述L型支撑板的顶部，所述测试探针的上端通过导线与所述测试仪电性连接，所述测试探针的外壁与所述固定板之间设有弹性机构，所述显示器固定设置于所述L型支撑板的侧壁上。本实用新型对射频集成电路的测试效率高，且便于工作人员观察测试结果，提高了射频集成电路的生产效率。

基本信息

专利标题：

射频集成电路测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021872899.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-01

授权号：

CN212932865U

授权日：

2021-04-09

发明人：

袁练

申请人：

深圳市格安电子有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区西乡街道航城大道南侧香格丽湾园3栋2单元1301

代理机构：

代理人：

优先权：

CN202021872899.3

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04