射频识别综合测试仪器
专利权的终止
摘要

本测试仪器属于射频识别技术领域,具体涉及一种具有实时应答功能的射频识别综合测试仪器,由控制器、中频、基带处理器、射频上变频器、射频下变频器组成,控制器的输出端接中频、基带处理器的输入端,中频、基带处理器的输出端接射频上变频器输入端,射频上变频器的输出端输出信号,射频下变频器的输入端接被测设备返回信号,射频下变频器的输出端接中频、基带处理器的输入端。本测试仪器主要用于读卡机和标签的协议一致性测试和性能测试,通过软件实现射频识别协议,运用模块化仪器集成专属于射频识别测试的测试系统,同时运用中频、基带处理器板载FPGA实现第二代超高频射频识别标准微秒级实时应答。

基本信息
专利标题 :
射频识别综合测试仪器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820153834.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-10-09
授权号 :
CN201259674Y
授权日 :
2009-06-17
发明人 :
陈柯邵晖何婷婷
申请人 :
上海聚星仪器有限公司
申请人地址 :
201203上海市浦东新区张东路1387号(张江集电港二期)10幢02号3楼
代理机构 :
上海正旦专利代理有限公司
代理人 :
张 磊
优先权 :
CN200820153834.6
主分类号 :
G06K7/00
IPC分类号 :
G06K7/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06K
数据识别;数据表示;记录载体;记录载体的处理
G06K7/00
读出记录载体的方法或装置
法律状态
2018-11-02 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G06K 7/00
申请日 : 20081009
授权公告日 : 20090617
2009-06-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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