集成电路测试方法和集成电路测试系统

著录事项变更

摘要

一种集成电路测试方法。所述集成电路测试方法包括：对集成电路料条上的集成电路产品进行检测；记录检测异常的集成电路产品并生成异常产品对照表；依据检测结果判断所述集成电路料条的良率是否达到预设良率；以及当所述集成电路料条的良率未达所述预设良率时，在线重新检测记录为所述检测异常的集成电路产品。

基本信息

专利标题：

集成电路测试方法和集成电路测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114264936A

申请号：

CN202111621658.0

公开（公告）日：

2022-04-01

申请日：

2021-12-28

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

张晓磊

申请人：

苏州日月新半导体有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号

代理机构：

北京律盟知识产权代理有限责任公司

代理人：

林斯凯

优先权：

CN202111621658.0

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R19/165

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/28

•电路的测试，例如用信号故障寻测器

法律状态

2022-05-10 ：

著录事项变更

IPC(主分类) : G01R 31/28
变更事项 : 申请人
变更前 : 苏州日月新半导体有限公司
变更后 : 日月新半导体（苏州）有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号
变更后 : 215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹西路188号

2022-04-19 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211228

2022-04-01 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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