集成电路测试方法及装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明揭露一种低成本集成电路测试方法及装置，其是利用一PC个人计算机主机组成系统及相关软硬件以操控集成电路的测试。当测试激活时，计算机主机则驱动一装卸装置将待测的集成电路置于一测试模块上，并轮流询问与测试模块连接的测试机台状态是否正常，若无异常，则驱动测试机台对集成电路进行测试，并将测试结果正常以及异常的集成电路分类收集，完成此次测试。通过PC个人计算机主机系统操控集成电路的测试，可达到降低成本以及操控容易的功效。
基本信息
专利标题 ：
集成电路测试方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1963550A
申请号 ：
CN200510115229.0
公开（公告）日 ：
2007-05-16
申请日 ：
2005-11-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
胡光庭张琦栋
申请人 ：
安国国际科技股份有限公司
申请人地址 ：
台湾省台北市
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
任默闻
优先权 ：
CN200510115229.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2009-11-18 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-07-11 ：
实质审查的生效
2007-05-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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