面向集成电路的测试方法、装置
实质审查的生效
摘要
本发明实施例涉及一种面向集成电路的测试方法、装置，包括：对被测集成电路进行建模，得到所述被测集成电路的目标测试模型；基于所述目标测试模型确定所述被测集成电路的测试程序；基于所述测试程序对所述被测集成电路进行测试，确定测试结果。由此，可以实现在确定测试程序之前，完成与测试内容相关的模型建模，可应用于不同的测试软件中，具有较好的通用性。
基本信息
专利标题 ：
面向集成电路的测试方法、装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114280459A
申请号 ：
CN202111629413.2
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2021-12-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
冯建呈闫丽琴郭丹王占选王振华潘国庆郝改萍于功敬王石记陈斐
申请人 ：
北京航天测控技术有限公司
申请人地址 ：
北京市石景山区实兴东街3号1-8号楼
代理机构 ：
北京华夏泰和知识产权代理有限公司
代理人 ：
卢万腾
优先权 ：
CN202111629413.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211228
申请日 : 20211228
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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