远程集成电路测试方法和装置
专利权的终止
摘要

本发明提供了用于远程测试安装在集成电路系统中的集成电路的方法和系统。该集成电路配备有用于测试集成电路内的功能块的测试结构和被配置用于接收控制测试结构的测试向量的测试访问机制。测试向量经由远程计算机的并行端口和并行电缆被施加到集成电路系统的并行端口的引脚,所述引脚被连接到在感兴趣的集成电路中实现的测试访问机制的信号端口,从而允许在集成电路被安装在其本地系统中的同时对该集成电路执行远程测试。

基本信息
专利标题 :
远程集成电路测试方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1841076A
申请号 :
CN200510124294.X
公开(公告)日 :
2006-10-04
申请日 :
2005-11-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
阿龙·M·沃兹
申请人 :
安捷伦科技有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 :
王怡
优先权 :
CN200510124294.X
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2014-01-29 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101565522737
IPC(主分类) : G01R 31/28
专利号 : ZL200510124294X
申请日 : 20051129
授权公告日 : 20091014
终止日期 : 20121129
2009-10-14 :
授权
2006-12-20 :
专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 安捷伦科技有限公司
变更后权利人 : 安华高科技杰纳勒尔IP(新加坡)私人有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国加利福尼亚州
变更后权利人 : 新加坡新加坡市
登记生效日 : 20061124
2006-12-06 :
实质审查的生效
2006-10-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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