一种集成电路测试高效测试装置

授权

摘要

本实用新型实施例公开了一种集成电路测试高效测试装置，包括固定底座，所述固定底座顶端中部开设有导向滑槽，所述导向滑槽内壁一端中部开设有第一安装槽，所述第一安装槽内部安装有第一气缸，所述第一气缸推杆端安装有L型放置板，所述L型放置板内部放置有集成电路块，所述固定底座顶端两侧边部均开设有第二安装槽，所述第二安装槽内部安装有第二气缸，所述第二气缸推杆端安装有限位推板，所述固定底座顶端靠近第一安装槽处安装有若干支撑柱。本实用新型通过第一气缸、L型放置板、第二气缸和限位推板，可以对集成电路块的放置进行定位和限位，可以降低集成电路块的放置难度，便于工作人员对集成电路块的检测。

基本信息

专利标题：

一种集成电路测试高效测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021783812.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-24

授权号：

CN212722954U

授权日：

2021-03-16

发明人：

朱水泉

申请人：

天津电子信息职业技术学院

申请人地址：

天津市津南区海河教育园雅深路4号

代理机构：

天津创信方达专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

李京京

优先权：

CN202021783812.5

主分类号：

G01R1/02

IPC分类号：

G01R1/02 G01R1/04 G01R31/28