集成电路测试模块
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
公开了测试集成电路(130)的系统(100)和方法。系统(100)包含测试模块(120)，其被配置成在自动测试设备(110)和要测试的集成电路(130)之间操作。测试接口(120)被配置成以高于自动测试设备(110)的时钟频率测试集成电路。为此，测试接口(120)包含被配置用于产生要提供到集成电路(130)的地址和测试数据的部件。能够产生各种测试数据模式，并且能够相关寻址测试数据。
基本信息
专利标题 ：
集成电路测试模块
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101163977A
申请号 ：
CN200680013325.7
公开（公告）日 ：
2008-04-16
申请日 ：
2006-03-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
亚德里恩·翁
申请人 ：
英沛科技公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
李德山
优先权 ：
CN200680013325.7
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2008-12-31 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2008-04-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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