一种LoRa模块自动测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种LoRa模块自动测试装置，所述测试治具包括有MCU、标准LoRa模块和转接口，所述MCU通过转接口与PC上位机电连接，待测模块通过测试治具供电；所述标准LoRa模块、待测模块分别与MCU电连接，所述标准LoRa模块、待测模块之间通过RF同轴线电连接。本申请测试时不需要LoRa信号发生器和频谱仪，本申请能实现上电自动测试完待测模块所有LoRa技术指标测试；本申请的测试装置成本低，工厂可以布置多台同时测试；测试项目多，基本包括LoRa的所有测试项；测试结果准确，误差小，批量好控制；测试结果直观明确，便于工人判断和维修；提高了测试效率，降低了生产成本。
基本信息
专利标题 ：
一种LoRa模块自动测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020462648.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-02
授权号 ：
CN212255573U
授权日 ：
2020-12-29
发明人 ：
朱波
申请人 ：
深圳市北高智电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区高新南一道002号飞亚达科技大厦1502室
代理机构 ：
北京市盈科律师事务所
代理人 ：
谌杰君
优先权 ：
CN202020462648.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-12-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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