自动测试装置
授权
摘要
本公开实施例提供的自动测试装置，涉及集成电路测试技术领域。该自动测试装置包括烘箱、设置于烘箱内的放料台、以及探测装置；探测装置包括探杆、设置于探杆上的探测器、以及驱动探杆移动的驱动装置；烘箱上设置有第一通孔，探杆通过驱动装置驱动使得探杆沿第一通孔进出烘箱；驱动装置设置于烘箱的外部。本公开实施例提供的自动测试装置实现了电路高温环境下的连续自动测试，无需人工干预，大大提高了高温测试效率；并且由于本公开实施例所使用的执行机构全部在高温烘箱外部，从而不需要耐高温的执行机构，进而降低了成本。
基本信息
专利标题 ：
自动测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122579546.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-26
授权号 ：
CN216209671U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
白云
申请人 ：
西安云科沃电子科技有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区锦业四路1号紫薇康馨公寓3-2601
代理机构 ：
重庆青飞知识产权代理有限公司
代理人 ：
阴知见
优先权 ：
CN202122579546.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
