校准装置及自动测试设备
授权
摘要
本实用新型公开一种校准装置及自动测试设备。该校准装置的一实施方式包括:与自动测试设备的多个测量板卡一一对应连接的多个校准子板及分别与多个校准子板通过标准化接口连接的校准母板,校准子板的类型与与其对应的测量板卡的类型相匹配,校准母板设置有直流信号标准源和时序信号标准源,标准化接口包括直流校准信号接口和时序校准信号接口;校准子板,用于切换来自对应测量板卡的多路待直流校准信号的传输通道以通过直流校准信号接口将多路待直流校准信号单路输出至校准母板,切换来自对应测量板卡的多路待时序校准信号的传输通道以通过时序校准信号接口将多路待时序校准信号单路输出至校准母板。该实施方式可大幅提升自动测试设备的校准效率。
基本信息
专利标题 :
校准装置及自动测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020044213.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-09
授权号 :
CN212008827U
授权日 :
2020-11-24
发明人 :
董亚明刘坤选林亚东
申请人 :
苏州华兴源创科技股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区青丘巷8号
代理机构 :
北京正理专利代理有限公司
代理人 :
李远思
优先权 :
CN202020044213.5
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R35/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-11-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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