自动测试设备校准数据的生成和使用
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明公开了自动测试设备校准数据的生成和使用。在一个实施例中,接收对执行自动测试设备校准处理的请求。该请求与一个或多个测试设置相关联。在接收该请求后,标识基于测试设置的若干校准填充点。然后针对测试设置和校准填充点二者生成校准数据。在另一实施例中,接收对使用自动测试设备执行一个或多个经校准的测试过程的请求,并且结合执行经校准的测试过程中的至少一个,从已有校准数据导出校准数据。

基本信息
专利标题 :
自动测试设备校准数据的生成和使用
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1818702A
申请号 :
CN200610003236.6
公开(公告)日 :
2006-08-16
申请日 :
2006-01-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周正容丹·麦克劳克林约翰·麦克劳克林丹尼尔·利沙夫
申请人 :
安捷伦科技有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 :
王怡
优先权 :
CN200610003236.6
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2011-07-13 :
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101114499127
IPC(主分类) : G06F 17/00
专利申请号 : 2006100032366
公开日 : 20060816
2008-04-09 :
实质审查的生效
2008-04-09 :
专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 安捷伦科技有限公司
变更后权利人 : 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 美国加利福尼亚州
变更后 : 新加坡新加坡市
登记生效日 : 20080229
2006-08-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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