自动测试装置校准因子的递增产生
专利申请权、专利权的转移
摘要

本发明公开了用于产生自动测试装置的校准数据的方法。在一个实施例中,接收到对自动测试装置(ATE)执行校准过程的请求。该请求与校准参数集合相关联。在接收到该请求之后,对应于校准参数集合的校准数据的一个或多个签名被导出,并且判断对应于所述一个或多个签名的校准数据是否已经产生。随后,产生校准数据的递增集合,其中所产生的校准数据i)对应于所述一个或多个签名,但是ii)还未产生。在另一实施例中,接收到对ATE执行校准过程的请求,并且该请求与指定的测试设置相关联。然后产生对应于所述指定的测试设置的校准数据的递增集合。

基本信息
专利标题 :
自动测试装置校准因子的递增产生
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1804648A
申请号 :
CN200610001187.2
公开(公告)日 :
2006-07-19
申请日 :
2006-01-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周正容麦克·米欧赫姆
申请人 :
安捷伦科技有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 :
王怡
优先权 :
CN200610001187.2
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R31/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2015-05-20 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101715420499
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2006100011872
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
变更后权利人 : 爱德万测试公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 新加坡新加坡市
变更后权利人 : 日本东京都
登记生效日 : 20150430
2012-06-06 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101367530403
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2006100011872
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司
变更后权利人 : 爱德万测试(新加坡)私人有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 新加坡 新加坡市
变更后权利人 : 新加坡新加坡市
登记生效日 : 20120425
2010-06-23 :
授权
2008-03-19 :
专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)
变更后权利人 : 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 美国加利福尼亚州
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 安捷伦科技有限公司
变更后 : 新加坡新加坡市
登记生效日 : 20080201
2008-03-12 :
实质审查的生效
2006-07-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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