本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了芯片自动测试控制装置，包括控制箱，所述控制箱的上方连接有盒体，所述盒体的内侧连接有滑座，所述滑座的上方连接有推板，所述推板的一侧连接有第二连接杆，所述第二连接杆的内部连接有第二轴杆，所述第二轴杆的两端连接有U型座，所述U型座的一侧连接有第一连接杆，所述第一连接杆的一端连接有第一轴杆，所述第一轴杆的一端连接有转盘，所述转盘的一侧连接有电机，本实用新型设置电机、第一连接杆、第二连接杆和推板，开启电机，带动转盘旋转，牵引第一连接杆和第二连接杆移动，牵引推板进行推动，将料斗内部堆积的芯片依次排出，避免通过人工拿取的方式取出测试，解决了测试效率较低的问题。