一种芯片双工位自动测试工装
授权
摘要
本实用新型提供一种芯片双工位自动测试工装，包括底板、立架、下座体、上座体、PCB板、测试开关和测试主机；所述下座体和测试开关分别固定在底板上；所述下座体上具有两个左右分布的放置槽；所述下座体内对应两个放置槽下方设有光源；立架固定在底板上且位于下座体旁侧；所述上座体设置在下座体上方且可上下活动地安装在立架上；所述上座体与立架之间设有复位组件；所述PCB板安装在上座体内；所述PCB板上设有切换开关和两组PIN针组；两组所述PIN针组分别对应在两个放置槽正上方；所述PCB板与光源以及测试开关电连接；所述PCB板通过排线与测试主机连接；本实用新型可对两款发光芯片进行检测，使用方便。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片双工位自动测试工装
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123133792.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-14
授权号 ：
CN216449691U
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
张阳
申请人 ：
沈阳诺巴斯智能科技有限公司
申请人地址 ：
辽宁省沈阳市中国(辽宁)自由贸易试验区沈阳片区全运五路33-23号2门3楼
代理机构 ：
大连中奥丰汇知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
朱国芳
优先权 ：
CN202123133792.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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