一种芯片测试系统和芯片自动测试台
授权
摘要
本实用新型实施例涉及芯片测试技术领域，提供一种芯片测试系统和芯片自动测试台。该芯片测试系统包括取料机构、测试定位机构和加电机构；取料机构位于测试定位机构的一侧，用以将取得的芯片放至测试定位机构上并在测试完成之后取走所述芯片；加电机构位于测试定位机构的另一侧，用以给所述测试定位机构上的芯片进行加电；测试定位机构包括载物台，载物台上设置有用以放置芯片的承载位置，载物台上对应承载位置设置有定位装置，定位装置用以限制芯片脱离承载位置。本实用新型实施例提供的芯片测试系统，通过取料机构、测试定位机构和加电机构代替人工取放、定位和测试芯片，提高了测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试系统和芯片自动测试台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021487153.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-07-24
授权号 ：
CN213457228U
授权日 ：
2021-06-15
发明人 ：
黄思琪郭庆锐杨全勇
申请人 ：
武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖开发区高新大道999号
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
张琪
优先权 ：
CN202021487153.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04 G01R1/067
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-06-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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