本实用新型涉及一种用于芯片测试的自动测试装置，包括机台和载物台，所述机台包括支架和外壳，所述载物台设置在所述支架上并处于所述外壳内部；所述载物台上方的外壳设置有联通所述外壳内部和外部空间的第一通孔；所述第一通孔上设置有第一探针设置单元；所述第一探针设置单元包括固定板、设置在所述固定板上的第二通孔和设置在所述固定板上并通过所述第二通孔联通所述机台的内部空间的探针座连接组件；所述固定板通过所述外壳上的安装螺孔与所述外壳的顶面连接在一起，使得所述第二通孔和所述第一通孔的圆心重叠。实施本实用新型的用于芯片测试的自动测试装置，具有以下有益效果：其测试成本较低、高低温测试时操作较为方便。