芯片功能性测试单元、测试方法、芯片和自动测试系统
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种芯片功能性测试单元、测试方法、芯片和自动测试系统，测试单元包括多个外设功能模块、GPIO复用功能模块和自测试模块；自测试模块，用于在被测芯片的功能测试阶段，通过自测试模式控制所有外设功能模块到GPIO复用功能模块的输出接口信号，基于输出接口信号对GPIO复用功能模块进行功能测试。本发明在被测芯片中增加自测试模块，主要功能是在开发GPIO复用功能模块功能pattern时，能够控制所有外设功能模块的输出使能以及输出数据，实现一个功能pattern就可以覆盖到GPIO复用功能模块的大部分逻辑，提高GPIO复用功能模块的测试覆盖率，也提高了测试效率。
基本信息
专利标题 ：
芯片功能性测试单元、测试方法、芯片和自动测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114487793A
申请号 ：
CN202210385968.5
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-04-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
程倩
申请人 ：
武汉杰开科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号未来科技城C3栋6楼(自贸区武汉片区)
代理机构 ：
武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
范三霞
优先权 ：
CN202210385968.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220413
申请日 : 20220413
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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