集成电路自测试结构

专利权的终止

摘要

一种集成电路(1)，包括：监测器(M1、M2、M3)，可操作用于依赖于所述集成电路(1)的已测量参数来产生监测数据；以及连接的自测试控制器，用于从所述监测器(M1、M2、M3)接收监测数据。所述自测试控制器还可以操作用于从所述集成电路输出自测试数据。所述监测器包括输出移位寄存器(SR1、SR2、SR3)，并且可操作用于通过所述移位寄存器(SR1、SR2、SR3)输出监测数据。这样的系统使集成电路上的系统自测试结果的简化通信成为可能。

基本信息

专利标题：

集成电路自测试结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101065680A

申请号：

CN200580040539.9

公开（公告）日：

2007-10-31

申请日：

2005-11-23

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

马塞尔·佩尔戈姆亨德里克斯·J·M·维恩德里克

申请人：

皇家飞利浦电子股份有限公司

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

朱进桂

优先权：

CN200580040539.9

主分类号：

G01R31/3185

IPC分类号：

G01R31/3185 G01R31/3167

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/00

电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）

G01R31/08

探测电缆、传输线或网络中的故障

G01R31/14

所用的电路

G01R31/315

使用电感法

G01R31/3185

测试的重新配置，例如LSSD，划分

法律状态

2015-01-07 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止申请日 : 20051123
授权公告日 : 20110831
终止日期 : 20131123
号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101594993605
IPC(主分类) : G01R 31/3185
专利号 : ZL2005800405399

2011-08-31 ：

授权

2008-05-07 ：

专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)

变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 皇家飞利浦电子股份有限公司
变更后权利人 : NXP股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 荷兰艾恩德霍芬
变更后权利人 : 荷兰艾恩德霍芬
登记生效日 : 20080411

2008-01-23 ：

实质审查的生效

2007-10-31 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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