一种嵌入式存储器内建自测试结构
专利权的终止
摘要
本实用新型公告了一种嵌入式存储器的内建自测试结构，包括MBIST控制器(1)、至少2个存储器以及与各存储器对应的比较器，其特征在于，所述该内建自测试结构还包括合成模块(5)；其中所述每个存储器配置有一个比较器，组成一个相对独立的测试单元，所述各测试单元与MBIST控制器(1)并行，且由MBIST控制器(1)向各测试单元输出控制信号，所述各测试单元将各自比较结果输入到合成模块(5)中，由合成模块(5)对所述比较结果整合后得到一个总的比较结果，并将所述的总的比较结果输入到MBIST控制器(1)。本实用新型所述嵌入式存储器测试结构大大减少了测试的复杂度，减少BIST电路所占芯片面积。
基本信息
专利标题 ：
一种嵌入式存储器内建自测试结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720170572.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-11-05
授权号 ：
CN201117296Y
授权日 ：
2008-09-17
发明人 ：
孙华义周显文常军锋刘欣祺孙耕郑涛石岭
申请人 ：
深圳艾科创新微电子有限公司
申请人地址 ：
518057广东省深圳市南山区高新区中区科技中二路软件园一期4栋4楼406室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN200720170572.X
主分类号 ：
G11C29/12
IPC分类号 ：
G11C29/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
法律状态
2013-12-18 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101555121971
IPC(主分类) : G11C 29/12
专利号 : ZL200720170572X
申请日 : 20071105
授权公告日 : 20080917
终止日期 : 20121105
号牌文件序号 : 101555121971
IPC(主分类) : G11C 29/12
专利号 : ZL200720170572X
申请日 : 20071105
授权公告日 : 20080917
终止日期 : 20121105
2008-09-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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