存储器和存储器测试系统
授权
摘要
本实用新型实施例提供一种存储器和存储器测试系统，其中，存储器包括：输入电路，适于接收外部时钟信号，并输出第一测试时钟信号；测试路径选择电路，与输入电路连接，适于根据读出时钟命令输出第二测试时钟信号；输出电路，与测试路径选择电路连接，适于将第二测试时钟信号转换为第三测试时钟信号输出到存储器外部，本实用新型实施例通过量化时钟信号输入被测试的每一个芯片的时间延迟，从而获取芯片的实际输出延迟，提高了多芯片并行测试的准确性。
基本信息
专利标题 ：
存储器和存储器测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022446104.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-27
授权号 ：
CN213459060U
授权日 ：
2021-06-15
发明人 ：
王佳
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 ：
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
成丽杰
优先权 ：
CN202022446104.9
主分类号 ：
G11C29/12
IPC分类号 ：
G11C29/12 G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
法律状态
2021-06-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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