存储器测试方法
授权
摘要
本发明提供一种存储器测试方法，其包括如下步骤：提供数据库，所述数据库包括数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系；当在预设存储器参数下对所述存储器施加读命令时，在所述数据库中查找与所述预设存储器参数对应的偏差值；根据所述偏差值获取捕获输出信号的时间值；在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试。本发明优点在于，将数据选通信号与时钟信号之间的偏差值及所述偏差值与存储器参数的对应关系形成数据库，在进行测试时，可直接依据数据库的记录获取捕获输出信号的时间值；在所述时间值处捕获输出信号，以实现对存储器的测试，从而使得没有自动跟踪功能的测试设备也能够准确地获得测试数据。
基本信息
专利标题 ：
存储器测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113450866A
申请号 ：
CN202010228553.8
公开（公告）日 ：
2021-09-28
申请日 ：
2020-03-27
授权号 ：
CN113450866B
授权日 ：
2022-04-12
发明人 ：
戴杨阳
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
代理机构 ：
上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
孙佳胤
优先权 ：
CN202010228553.8
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-04-12 ：
授权
2021-10-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20200327
申请日 : 20200327
2021-09-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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