存储器测试方法
实质审查的生效
摘要

本公开提供一种存储器测试方法。方法包括:确定目标存储库的刷新周期T、设计抵御攻击频率F以及单行读取时间t;根据刷新周期T、设计抵御攻击频率F以及单行读取时间t确定攻击行数N;根据所述攻击行数N的值在目标存储库中确定一组目标攻击行,所述一组目标攻击行包括N个目标攻击行,所述N个目标攻击行中的至少两个目标攻击行之间间隔一行;连续X次读取所述N个目标攻击行后,检测所述目标攻击行的全部相邻行是否发生数据异常以完成一次攻击测试;在M个所述刷新周期内对所述目标存储库完成MT/NXt次所述攻击测试,在所述攻击测试均未发生数据异常时,判断所述目标存储库抵御攻击能力达标。本公开实施例可以有效验证DRAM抵御行锤效应攻击的能力。

基本信息
专利标题 :
存储器测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114388049A
申请号 :
CN202011111033.5
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2020-10-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
许小峰
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
北京律智知识产权代理有限公司
代理人 :
孙宝海
优先权 :
CN202011111033.5
主分类号 :
G11C29/52
IPC分类号 :
G11C29/52  G11C11/406  G11C11/4078  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置,例如:用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/52
存储器内量保护;存储器内量中的错误检测
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/52
申请日 : 20201016
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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