存储器装置以及存储器的测试方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种存储器装置以及存储器的测试方法，可增加测试的速度。存储器的测试方法包括：产生多个测试数据；依据设定地址，使各测试数据被写入至存储器的多个选中存储区块中；依据上述的设定地址，由选中存储区块分别读取多个读出数据；并且，比较读出数据以产生测试结果。
基本信息
专利标题 ：
存储器装置以及存储器的测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114333958A
申请号 ：
CN202011058712.0
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
汤志栋赖志强
申请人 ：
华邦电子股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台中市大雅区科雅一路8号
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
张娜
优先权 ：
CN202011058712.0
主分类号 ：
G11C29/12
IPC分类号 ：
G11C29/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/12
申请日 : 20200930
申请日 : 20200930
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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