存储器测试系统及其测试方法
授权
摘要
本公开是关于一种存储器测试系统及其测试方法，所述存储器测试系统包括：多个测试装置、上位机和驱动模块；每个所述测试装置上均设置有测试接口，所述测试接口用于连接待测试存储器；所述上位机分别和多个所述测试装置连接，所述上位机用于控制所述测试装置对所述待测试存储器进行测试；所述驱动模块和所述测试装置连接，所述驱动模块向所述测试装置输出驱动信号，所述驱动信号用于驱动所述测试装置和所述上位机进行数据交互。提高了存储器测试的效率。
基本信息
专利标题 ：
存储器测试系统及其测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113450865A
申请号 ：
CN202010221644.9
公开（公告）日 ：
2021-09-28
申请日 ：
2020-03-26
授权号 ：
CN113450865B
授权日 ：
2022-05-20
发明人 ：
何浩陆丹汪洋
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
代理机构 ：
北京律智知识产权代理有限公司
代理人 ：
王辉
优先权 ：
CN202010221644.9
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56 G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-05-20 ：
授权
2021-10-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20200326
申请日 : 20200326
2021-09-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
