测试方法及测试系统
实质审查的生效
摘要
本发明实施例提供一种测试方法及测试系统，测试方法用于获取待测存储器的ZQ校准时间，包括：向ZQ校准模块提供初始化命令，以使终结电阻的电阻值为第一最值；向ZQ校准模块提供ZQ校准命令，以使终结电阻的电阻值由第一最值递增或递减至第二最值，第一最值和第二最值的其中一个为最大值，另一个为最小值；获取第一时间节点，第一时间节点为ZQ校准命令的发送时间；获取第二时间节点，第二时间节点为终结电阻的电阻值变化至第二最值的时间；基于第二时间节点和第一时间节点，获取ZQ校准时间；本发明实施例以一种低成本的方式，便捷且准确地获取存储器进行ZQ校准的时间。
基本信息
专利标题 ：
测试方法及测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114520018A
申请号 ：
CN202011297404.3
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2020-11-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
徐景宏
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 ：
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
成丽杰
优先权 ：
CN202011297404.3
主分类号 ：
G11C29/50
IPC分类号 ：
G11C29/50 G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/50
容限测试，例如，竞争、电压或电流测试
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/50
申请日 : 20201118
申请日 : 20201118
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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