测试系统、用于测试系统的测试方法以及测试载具
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摘要
本发明提供测试系统、用于测试系统的测试方法以及测试载具。测试系统包括电源供应电路、控制端电路以及控制器。控制器用以控制电源供应电路以及控制端电路以对功率模块进行多个测试项目的测试。电源供应电路反应于控制器的控制提供对应于上述多个测试项目的多个电源路径。控制端电路反应于控制器的控制对应于上述多个测试项目的提供多个控制路径，藉以缩短功率模块的测试时程。
基本信息
专利标题 ：
测试系统、用于测试系统的测试方法以及测试载具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110954842A
申请号 ：
CN201910924120.3
公开（公告）日 ：
2020-04-03
申请日 ：
2019-09-24
授权号 ：
CN110954842B
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
李衡曾志铭张道智
申请人 ：
财团法人工业技术研究院
申请人地址 ：
中国台湾新竹县
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
李芳华
优先权 ：
CN201910924120.3
主分类号 ：
G01R31/40
IPC分类号 ：
G01R31/40 G01R31/27 G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/40
•测试电源
法律状态
2022-04-05 ：
授权
2020-05-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/40
申请日 : 20190924
申请日 : 20190924
2020-04-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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