一种源载集成的测试系统及测试方法
公开
摘要
本发明公开了一种源载集成的测试系统及测试方法，包括电网、ACDC模块、DCDC模块、第一DCAC&DCDC模块、第二DCAC&DCDC模块和待测设备EUT；所述电网接ACDC模块的一端，所述ACDC模块的另一端接DCDC模块的一端，所述DCDC模块另一端具有两条并联的电路，分别接第一DCAC&DCDC模块和第二DCAC&DCDC模块的一端，所述第一DCAC&DCDC模块和第二DCAC&DCDC模块另一端均接待测设备EUT。本发明通过设置ACDC模块、DCDC模块、第一DCAC&DCDC模块、第二DCAC&DCDC模块，设有多路与待测设备EUT单独连接的线路，适用于交流源交流负载、交流源直流负载、直流源直流负载、直流源交流负载、独立或并联的源或负载等不同的使用场合，保证了源载的高度集成，有效简化测试环境。
基本信息
专利标题 ：
一种源载集成的测试系统及测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609461A
申请号 ：
CN202210263189.8
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘永欢蔡振鸿唐德平谭卫花王涛王青
申请人 ：
合肥科威尔电源系统股份有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区大龙山路8号
代理机构 ：
合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
朱文振
优先权 ：
CN202210263189.8
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 H02M7/219 H02M3/335 H02M1/088
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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