一种测试用载具
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摘要

本实用新型提供一种测试用载具,测试用载具包括绝缘支撑基座、导电支撑部以及缓冲部,导电支撑部的直径小于绝缘支撑基座的直径,导电支撑部包括与所述绝缘支撑基座连接的第一部分以及自所述第一部分的中间延伸形成凸台结构的第二部分,第二部分的直径小于第一部分的直径;缓冲部设置在第一部分上方及第二部分形成的凸台结构的外围,并且与第二部分等高设置,缓冲部能够避免晶圆与导电支撑部接触时由于水平问题带来的点接触造成晶圆破裂。测试用载具还包括设置在导电支撑部的外围及绝缘支撑基座上方的外围承载部,其能够防止晶圆与导电支撑部接触太快造成晶圆破裂。上述测试用载具适用于不同类型、不同尺寸的晶圆,降低了测试成本。

基本信息
专利标题 :
一种测试用载具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920966965.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-26
授权号 :
CN210347848U
授权日 :
2020-04-17
发明人 :
辛军启蒋小金
申请人 :
芯恩(青岛)集成电路有限公司
申请人地址 :
山东省青岛市黄岛区中德生态园团结路2877号ICIC办公楼4楼
代理机构 :
北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
陈敏
优先权 :
CN201920966965.4
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R31/01  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-04-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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