测试治具和测试系统
授权
摘要
本实用新型公开一种测试治具和测试系统，该测试治具用于电路板测试，所述测试治具包括：测试框架，设有安装面；测试针板，可拆卸地设于所述安装面，所述测试针板用于放置待测电路板，所述测试针板背向所述安装面的一侧设有探针，所述探针用于与所述待测电路板的引脚接触；测试压棒，与所述测试框架转动连接，所述测试压棒包括多个可折叠地压棒；所述测试压棒相对于所述测试框架转动，使所述压棒压紧待测电路板，以使所述探针与所述待测电路板的引脚接触。本实用新型旨在提高测试治具的通用性，降低测试治具的成本，提升测试效率。
基本信息
专利标题 ：
测试治具和测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020255635.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-04
授权号 ：
CN212180964U
授权日 ：
2020-12-18
发明人 ：
李炳虎黄小勇唐群辉刘国强梅兵张洋
申请人 ：
深圳创维-RGB电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区深南大道创维大厦A座13-16楼
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
肖文静
优先权 ：
CN202020255635.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-12-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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