芯片测试治具及系统
授权
摘要
一种芯片测试治具及系统，所述芯片测试治具，包括：测试板，所述测试板上设置有芯片放置区域，所述芯片放置区域设置有测试触点及真空孔，其中：所述真空孔用于连接抽真空装置，以通过所述真空孔内的真空吸力将待测试芯片吸附于所述芯片放置区域，当所述待测试芯片被吸附时，所述测试触点与所述待测试芯片的引脚接触。上述方案，能够提高芯片测试治具的通用性。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试治具及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020991989.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-03
授权号 ：
CN212255582U
授权日 ：
2020-12-29
发明人 ：
卢群
申请人 ：
格科微电子（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区盛夏路560弄2号楼11F
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
周书敏
优先权 ：
CN202020991989.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-12-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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