一种芯片模组测试板及芯片模组测试系统
授权
摘要
本实用新型提供一种芯片模组测试板及芯片模组测试系统，芯片模组测试板包括测试主板及设置于测试主板上的若干沿着第一方向排布的测试板电极组，各测试板电极组包括若干测试板电极，测试板电极在平行于测试主板的平面上具有沿着第一方向的第一特征尺寸和沿着第二方向的第二特征尺寸，第一方向和第二方向垂直，第一特征尺寸与第二特征尺寸的比值为0.5－2。由于第一特征尺寸与第二特征尺寸的比值为0.5－2，使测试板电极的对位偏移具有一定的容量，即使测试板电极和芯片电极在对位时出现歪斜，也可以在一定程度上避免芯片电极同时与相邻两测试板电极搭接，从而避免芯片测试过程中芯片电极短路，避免对芯片模组造成损伤。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片模组测试板及芯片模组测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021922309.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-04
授权号 ：
CN213041956U
授权日 ：
2021-04-23
发明人 ：
王伟万晓鹏郝力强
申请人 ：
苏州清越光电科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山市高新区晨丰路188号
代理机构 ：
北京三聚阳光知识产权代理有限公司
代理人 ：
梁岩
优先权 ：
CN202021922309.3
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-23 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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