一种芯片模组测试板及芯片模组测试系统

授权

摘要

本实用新型提供一种芯片模组测试板及芯片模组测试系统，芯片模组测试板适于对芯片模组进行测试，芯片模组具有若干芯片电极，芯片模组测试板包括测试主板及设置于测试主板上的若干测试板电极，测试板电极沿着测试板电极的宽度方向进行排列，测试板电极的宽度小于相邻的芯片电极的最小间距。由于测试板电极的宽度小于相邻芯片电极的最小间距，使测试板电极的对位偏移具有一定的容量，即使测试板电极和芯片电极在对位时出现偏位，也可以保证芯片电极仅和一个测试板电极接触，避免了芯片电极同时与相邻两测试板电极搭接，从而避免芯片测试过程中芯片电极短路，避免对芯片模组造成损伤。

基本信息

专利标题：

一种芯片模组测试板及芯片模组测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021922122.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-04

授权号：

CN213041955U

授权日：

2021-04-23

发明人：

王伟万晓鹏郝力强吴磊

申请人：

苏州清越光电科技股份有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市昆山市高新区晨丰路188号

代理机构：

北京三聚阳光知识产权代理有限公司

代理人：

梁岩

优先权：

CN202021922122.3

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28