芯片测试装置、芯片测试系统及数据采集方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种芯片测试装置包括网络分析仪和触发模块，所述网络分析仪、所述触发模块和待测试芯片电连接；所述网络分析仪被配置为发送触发指令至所述触发模块，以及对所述待测试芯片的状态切换时间进行采集；所述触发模块被配置为响应所述触发指令发送第一触发信号至所述待测试芯片，其中，所述第一触发信号为触发所述待测试芯片进行状态切换的信号；通过网络分析仪和触发模块的共同作用即可实现对待测试芯片的状态切换时间进行采集，而不需要额外搭建复杂的测试环境，从而不但提高了对芯片的状态切换时间进行采集时的效率，还降低了测试成本。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试装置、芯片测试系统及数据采集方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114325312A
申请号 ：
CN202111567455.8
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
林楷辉倪建兴
申请人 ：
锐石创芯（深圳）科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路136号深圳新一代产业园3栋2001
代理机构 ：
深圳众鼎汇成知识产权代理有限公司
代理人 ：
朱业刚
优先权 ：
CN202111567455.8
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211220
申请日 : 20211220
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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