芯片测试装置及系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种芯片测试装置及系统，所述装置包括：装置主体；移动产业处理器接口MIPI芯片，设置于所述装置主体上，所述MIPI芯片包括第一接口及第二接口，所述第一接口用于接收测试数据，所述第二接口连接于待测芯片，所述第二接口用于将所述测试数据传输到所述待测芯片，以对所述待测芯片进行测试。本实用新型实施例提供的芯片测试装置通过成熟的MIPI芯片对待测芯片进行测试，可以有效降低芯片测试的复杂度，并降低成本。
基本信息
专利标题 ：
芯片测试装置及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123126931.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-13
授权号 ：
CN216449690U
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
萨斌王刚
申请人 ：
北京集创北方科技股份有限公司
申请人地址 ：
北京市大兴区经济技术开发区景园北街2号56幢8层801(北京自贸试验区高端产业片区亦庄组团)
代理机构 ：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘新宇
优先权 ：
CN202123126931.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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