本申请提供了一种存储器的单粒子效应测试分析方法、装置及测试系统，其方法通过获取存储器进行单粒子效应测试发生单粒子翻转的错误数据；基于所述错误数据，按照预设的单粒子翻转分类识别规则对存储器发生的单粒子翻转进行分类识别，以获得单粒子翻转的分类类别；根据所述单粒子翻转的分类类别对存储器进行单粒子翻转的数据统计分析，确定存储器发生单粒子翻转的敏感位置。上述方法能够统计存储器在辐照环境下发生单粒子翻转的数量以及结合对每个单粒子翻转进行的分类统计和分析，可以从数据推断存储器发生单粒子翻转的敏感位置。由此，可以实现对存储器器件的敏感位置进行抗辐照加固和评估，针对性强。