针对FPGA器件SerDes模块的单粒子效应测试方法及装...
实质审查的生效
摘要
本申请涉及集成电路技术领域，特别涉及一种针对FPGA器件SerDes模块的单粒子效应测试方法及装置，其中，方法包括：利用作为主控器件的第一FPGA器件生成目标码型的第一SBS码；在作为待测试设备的第二FPGA器件传输第一SBS码的过程中，控制第一FPGA器件使得第一SBS码接受辐射，并检测辐射后目标码型的第二SBS码；参照第二SBS码，统计SBS的误码数量和错误类型，生成单粒子效应测试结果。由此，解决了相关技术中对于FPGA器件SerDes模块测试的稳定性低、精确度不高、实时性较差，且测试适用性较差等问题。
基本信息
专利标题 ：
针对FPGA器件SerDes模块的单粒子效应测试方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114527372A
申请号 ：
CN202210146483.0
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2022-02-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴泽昊蔡畅沈磊俞军王树徐灵炎宁冰旭沈鸣杰徐烈伟
申请人 ：
复旦大学
申请人地址 ：
上海市杨浦区邯郸路220号
代理机构 ：
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
吴婷
优先权 ：
CN202210146483.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/317 G01R31/3181 G06F17/13
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220217
申请日 : 20220217
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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