测试模块与测试系统
专利权的终止
摘要
本实用新型提供一种测试模块与测试系统,用以仿真一内存模块,该测试模块与内存模块的尺寸相同。该测试模块包含电阻群、开关、焊孔与备用电路。开关耦接电阻群,电源供应器通过开关连接电阻群。焊孔用以焊接电子负载,设定电子负载切换于不同负载量间以仿真内存模块的芯片的操作状态。备用电路通过电源供应器充电,并供应电能至电子负载。
基本信息
专利标题 :
测试模块与测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820110790.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-04-25
授权号 :
CN201181590Y
授权日 :
2009-01-14
发明人 :
梁凯翔
申请人 :
英业达股份有限公司
申请人地址 :
中国台湾台北市士林区后港街六十六号
代理机构 :
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 :
陈红
优先权 :
CN200820110790.9
主分类号 :
G11C29/00
IPC分类号 :
G11C29/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
2014-06-18 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101583001438
IPC(主分类) : G11C 29/00
专利号 : ZL2008201107909
申请日 : 20080425
授权公告日 : 20090114
终止日期 : 20130425
号牌文件序号 : 101583001438
IPC(主分类) : G11C 29/00
专利号 : ZL2008201107909
申请日 : 20080425
授权公告日 : 20090114
终止日期 : 20130425
2009-01-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN201181590Y.PDF
PDF下载