内存模块的温度调节测试单元以及利用上述测试单元的内存模块...
公开
摘要
本发明涉及一种内存模块的温度调节测试单元以及利用上述测试单元的内存模块测试装置，本发明包括：测试板部，安装在测试空间中，划分成多个内存模块安装区域，可将多个内存模块安装到上述多个内存模块安装区域中；测试箱部，以围绕内存模块安装区域的方式形成；控制箱部，配置在上述测试箱部的上部且可以上下移动，用于与上述测试箱部一起对上述内存模块安装区域进行覆盖；驱动部；旋转轴部，随着上述驱动部的旋转进行旋转；小齿轮部，随着上述旋转轴部的旋转进行旋转；齿条齿轮部，以通过接收上述旋转轴的旋转力而使得上述控制箱部上下移动的方式进行安装；以及，温度控制部，用于对上述控制箱部的内部温度进行检测并设定温度，包括珀耳帖元件。
基本信息
专利标题 ：
内存模块的温度调节测试单元以及利用上述测试单元的内存模块测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114579386A
申请号 ：
CN202011373039.X
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2020-11-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
金星植李广雨
申请人 ：
株式会社GSI
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京德崇智捷知识产权代理有限公司
代理人 ：
贺征华
优先权 ：
CN202011373039.X
主分类号 ：
G06F11/30
IPC分类号 ：
G06F11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/30
监控
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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