主板的内存测试结构
授权
摘要
一种主板的内存测试结构，其包括测试板体、数个主板组件以及测试机构所构成，其中各该主板组件包含主板、中央处理器(CPU)、内存及数个待测内存模块(device under test,DUT)。藉此，能改善传统的主板测试方式因计算机(PC)速度上的距离使得测速受限，而本创作将待测内存模块设在中央处理器背面，如此一来中央处理器与待测内存模块的距离就最短，使得这块特制的主板可以有效缩小，测试速度就可以达到最高速的测试，并使测试机构在工作区域里面的测试面积可以采用单位最大检测数量来进行测试，有效突破测试面积及测试速度的限制，提高测试效率及数量，频率更高。
基本信息
专利标题 ：
主板的内存测试结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020452550.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-01
授权号 ：
CN211906262U
授权日 ：
2020-11-10
发明人 ：
林正隆梁万栋
申请人 ：
森富科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新竹县竹北市光明九路218号3楼
代理机构 ：
长沙正奇专利事务所有限责任公司
代理人 ：
何为
优先权 ：
CN202020452550.8
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22 G06F1/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2020-11-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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