内存芯片超频测试模块

授权

摘要

本实用新型为一种内存芯片超频测试模块，应用在两阶段的内存芯片测试制程中，筛检不同速度的内存芯片，包含测试盘区、定位暂存盘、至少一预测试机台、多个测试机台以及机械手臂，机械手臂电性连接测试盘区、定位暂存盘、预测试机台以及测试机台，预测试机台设置在定位暂存盘及测试机台的中间，对内存做第一阶段的测试及筛选，经过第一阶段预测试机台筛选通过的内存，将在测试机台进行完整的内存芯片测试。提高效率、准确度及减少误判。

基本信息

专利标题：

内存芯片超频测试模块

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921242278.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-02

授权号：

CN209947446U

授权日：

2020-01-14

发明人：

洪康宁

申请人：

全何科技股份有限公司

申请人地址：

中国台湾新北市

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司

代理人：

许静

优先权：

CN201921242278.4

主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/56