一种内存芯片的测试方法、装置、设备及介质
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种内存芯片的测试方法、装置、设备及介质,涉及半导体芯片测试技术领域,所述方法应用于测试电脑中,包括:若接收到测试指令,发送系统级测试开始命令到手机测试主板;接收所述手机测试主板反馈的模拟真实环境测试的结果;若所述模拟真实环境测试的结果为失败,则发送第一停止测试命令到所述手机测试主板,以及发送第二停止测试命令到集成电路自动测试机。因此,通过对内存芯片先进行模拟真实环境测试后,再根据所述模拟真实环境测试的结果再决定是否进行自动化量产测试,使得测试时间缩短,提高了测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种内存芯片的测试方法、装置、设备及介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325329A
申请号 :
CN202111648017.4
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李创锋
申请人 :
深圳市金泰克半导体有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山新区聚龙山3号路长方照明工业园B栋一、四层
代理机构 :
深圳智汇远见知识产权代理有限公司
代理人 :
聂磊
优先权 :
CN202111648017.4
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211230
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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