本发明提供了一种芯片测试装置及测试方法，该装置包括时钟模块、数字信号处理模块、控制模块、通信连接电路、数模转换器和倍频模块；时钟模块用于产生频率可调节的精准时钟信号，控制模块配置数字信号处理模块得到所需频率和/或相位的数字信号，数模转换器将数字信号转化为基准信号；倍频模块分别与数字信号处理模块和待测芯片电连接，倍频模块调整基准信号产生增加抖动的高速抖动信号，并对待测芯片进行测试。本发明的芯片测试装置的信号基于精准时钟信号得到，能够消除测试时的误差，提升测试结果的准确性，且能够对所述基准信号的频率和/或相位进行控制，能够根据测试需求设置不同的基准信号，便于使用、且便于进行不同要求的测试。